測試計量dynadmin2020-08-13T12:01:48+08:00 SmarAct提供了一系列的測量解決方案,廣泛應用于工業和學術環境。 我們的PICO SCALE產品基于光學方法,用于位移和振動的非接觸式測量。使用高帶寬激光干涉儀,可以以低至單pm的分辨率跟蹤位移和振動。有多種選項可用于使測量適應您的確切要求。 位移測量 PICOSCALE干涉儀,用于高精度位移測量。 振動測量 PICOSCALE振動計,用于小樣品的模態分析。 測量服務 SmarAct提供的全新計量測量服務。 定位位移臺納米定位系統測試計量 Metrology Brochure.pdf 2.6 MiB Download