SmarAct提供了一系列的測(cè)量解決方案，廣泛應(yīng)用于工業(yè)和學(xué)術(shù)環(huán)境。
我們的PICO SCALE產(chǎn)品基于光學(xué)方法，用于位移和振動(dòng)的非接觸式測(cè)量。使用高帶寬激光干涉儀，可以以低至單pm的分辨率跟蹤位移和振動(dòng)。有多種選項(xiàng)可用于使測(cè)量適應(yīng)您的確切要求。
位移測(cè)量
PICOSCALE干涉儀，用于高精度位移測(cè)量。
振動(dòng)測(cè)量
PICOSCALE振動(dòng)計(jì)，用于小樣品的模態(tài)分析。
測(cè)量服務(wù)
SmarAct提供的全新計(jì)量測(cè)量服務(wù)。
Metrology Brochure.pdf
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